Основы анализа поверхности и тонких пленок

Библиографические подробности
Главный автор: Фельдман, Леонард К.
Формат:
Язык:Undetermined
Опубликовано: М Мир 1989

MARC

LEADER 00000nam a2200000Ia 4500
008 200515s9999||||xx |||||||||||||| ||und||
016 3 9
020 |a 5-03-001017-3 
084 |a 22.31  |b Ф 37  |2 NNA 
100 |a Фельдман, Леонард К. 
245 0 |a Основы анализа поверхности и тонких пленок  |c Л. Фелдман, Д. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого 
260 |c 1989  |a М  |b Мир 
300 |a 344 
546 |a Орос 
942 |c BK 
952 |0 0  |1 0  |2 NNA  |4 0  |6 134652  |7 0  |9 410919  |a URNU  |b URNU  |c 2  |d 2021-07-28  |e Khudaldaa  |g 18.50  |l 0  |o 134652  |p 005020134652  |r 2021-07-28  |w 2020-05-15  |y BK 
999 |c 237738  |d 237795