Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов

Библиографические подробности
Главный автор: Афнасьев А.М. и др
Соавтор: Проблемы науки и технического прогресса
Другие авторы: А.М.Афанасьев, П.А.Александров, Р.М.Имамов
Формат:
Язык:Russian
Опубликовано: М Наука 1986
Предметы:

Схожие документы