Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках

Bibliographic Details
Corporate Author: Тр. ИОФАН АН СССР, Ин-т общ. физики
Format: Book
Language:Russian
Published: М Наука 1986
Subjects:

МУҮНомын сан салбар: UB0100000117

Holdings details from МУҮНомын сан салбар: UB0100000117
Call Number: 78440
Copy Unknown (Т. 4) Available Place a Hold