Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках

Библиографические подробности
Соавтор: Тр. ИОФАН АН СССР, Ин-т общ. физики
Формат:
Язык:Russian
Опубликовано: М Наука 1986
Предметы:

МУҮНомын сан салбар: UB0100000117

Подробно о фондах из МУҮНомын сан салбар: UB0100000117
Шифр: 78440
Копировать Unknown (Т. 4) Доступно Поместить задолженность