Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем [Учеб. пособие для приборостроит. спец. вузов]

Библиографические подробности
Главный автор: Глудкин О.П., Черняев В.Н
Формат:
Язык:Russian
Опубликовано: М Энергия 1980
Предметы:

МУҮНомын сан төв байр: UB0100000104

Подробно о фондах из МУҮНомын сан төв байр: UB0100000104
Шифр: 506555
506556
Копировать Unknown Доступно Поместить задолженность
Копировать Unknown Доступно Поместить задолженность