Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем [Учеб. пособие для приборостроит. спец. вузов]

Библиографические подробности
Главный автор: Глудкин О.П., Черняев В.Н
Формат:
Язык:Russian
Опубликовано: М Энергия 1980
Предметы: